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蔡司掃描電子顯微鏡
蔡司掃描電鏡FIB Crossbeam
蔡司掃描電鏡Crossbeam系列的FIB-SEM結(jié)合了場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束(FIB)優(yōu)異的加工性能。無論是在科研或是工業(yè)實(shí)驗(yàn)室，您都可以在一臺(tái)設(shè)備上實(shí)現(xiàn)多用戶同時(shí)操作。得益于蔡司Crossbeam系列模塊化的平臺(tái)設(shè)計(jì)理念，您可以根據(jù)自己需求的變化隨時(shí)升級(jí)儀器系統(tǒng)。在加工、成像或是實(shí)現(xiàn)三維重構(gòu)分析時(shí)，Crosss
蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Sigma
蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Sigma系列 擁有高品質(zhì)成像和先進(jìn)顯微分析功能的FE-SEM 蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Sigma系列產(chǎn)品集場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)技術(shù)與良好的用戶體驗(yàn)于一體，助您輕松實(shí)現(xiàn)構(gòu)建成像和分析程序，同時(shí)提高工作效率。您可以將其用于新材料和顆粒的質(zhì)量監(jiān)測(cè)，或研究生物和地質(zhì)樣本。Sigma可實(shí)現(xiàn)高分辨率成像，它采用低電壓，能在1 kV或更低電壓下實(shí)現(xiàn)更高的分辨率和對(duì)比度。
場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡GeminiSEM
蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360 它是中心實(shí)驗(yàn)室的得力助手，在科研和工業(yè)領(lǐng)域中具有高通用性。 靈活的樣品適用性 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360是中心實(shí)驗(yàn)室的理想選擇，在科研和工業(yè)中具有非常高的通用性。 產(chǎn)品搭載Gemini 1鏡筒，在低電壓下依然具有高分辨成像能力，讓您輕松獲取樣品極表面高分辨信息。 通過鏡筒內(nèi)二次
蔡司鎢燈絲掃描電鏡EVO18
蔡司掃描電鏡EVO18是一款具有處理各種材料能力的分析型顯微鏡，為您提供優(yōu)異的成像品質(zhì)。 標(biāo)配能譜儀和波譜儀(EDS & WDC)接口，另有用于高級(jí)形貌與化學(xué)分析的全集成式顆粒分析和識(shí)別解決方案可供選擇。通過升級(jí)LaB6高亮度光源將與X射線分析相關(guān)的探針電流性能提升至一個(gè)全新的水準(zhǔn)。 EVO18 掃描電鏡的五象限背散射電子探測(cè)器(BSE)有助于增強(qiáng)低電壓性能及
蔡司EVO系列掃描電子顯微鏡
蔡司掃描電子顯微鏡EVO系列 模塊化的 SEM 平臺(tái)適用于直觀操作、例行檢測(cè)和研究應(yīng)用 EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起， 同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學(xué)， 材料科學(xué)， 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域，憑借廣泛的可選配置， EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。 顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量保證實(shí)驗(yàn)室的多功能解
