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X射線顯微鏡

蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 730

     蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 730   出色的斷層掃描,¹時刻滿足每位用戶、各種樣品的多樣化需求探索蔡司VersaXRM 730的無限潛能,盡

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     蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 730

  出色的斷層掃描,¹時刻滿足每位用戶、各種樣品的多樣化需求探索蔡司VersaXRM 730的無限潛能,盡享其特色的40×-Prime物鏡和屢獲殊榮的ZEN navx。該系統(tǒng)憑借出眾的圖像分辨率性能,重新定義了亞微米成像,為您的研究帶來了全新的突破性功能。ZEN navx利用智能系統(tǒng)的洞察力簡化工作流,確保輕松高效地獲取結(jié)果;谌斯ぶ悄艿闹貥(gòu)為出色的圖像質(zhì)量提供加持,DeepRecon Pro有效提高通量,而FAST模式可在一分鐘內(nèi)實現(xiàn)斷層掃描。使用蔡司VersaXRM 730,開啟探索樣品的新時代。

蔡司X射線顯微鏡VERSAXRM730

  借助出眾的分辨率性能來革新您的研究

  蔡司40×-Prime物鏡

 蔡司X射線顯微鏡VERSAXRM730

  蔡司VersaXRM 730搭載特色的40×-Prime物鏡,助您在30 kV至160 kV的完整源電壓范圍內(nèi)實現(xiàn)450-500 nm的出色圖像分辨率性能。這一特色為研究人員解鎖了全新的應(yīng)用程序功能,推動了亞微米成像分辨率的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展。此外,隨著X射線光子的增加,可在不影響分辨率的情況下更快獲取各種樣品的結(jié)果。蔡司VersaXRM以實現(xiàn)大工作距離高分辨率(RaaD™)的功能而聞名,始終能夠在長尺度范圍內(nèi)對多種樣品類型和尺寸進(jìn)行高分辨率成像。憑借VersaXRM 730特色的40×-Prime物鏡和更高的能量,如今您將體驗到超越以往的亞微米成像。

  基于人工智能的優(yōu)質(zhì)圖像

  高級重構(gòu)工具箱中的蔡司DeepRecon Pro蔡司DeepRecon Pro已成為XRM重構(gòu)的強(qiáng)大工具,因此VersaXRM 730包含了ART高性能工作站和DeepRecon Pro(許可證為期兩年)。

蔡司X射線顯微鏡VERSAXRM730

  DeepRecon Pro是一項基于人工智能的創(chuàng)新技術(shù),可為各種應(yīng)用帶來出色的效率和圖像質(zhì)量優(yōu)勢。DeepRecon Pro既適用于單個樣品,也適用于半重復(fù)和重復(fù)的工作流。用戶現(xiàn)可通過使用簡便易用的界面在現(xiàn)場獨立訓(xùn)練全新的機(jī)器學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)模型。DeepRecon Pro的一鍵式工作流讓新手用戶也能熟練操作,無需熟知機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)的專家從旁輔助。

  揭示晶體結(jié)構(gòu)信息

  用于衍射襯度斷層掃描(DCT)的LabDCT Pro

  用于衍射襯度斷層掃描(DCT)的LabDCT Pro僅為蔡司VersaXRM 730提供,可實現(xiàn)對晶粒取向和微觀結(jié)構(gòu)的無損三維成像。三維晶粒取向的直接可視化開辟了多晶材料表征的新維度(如金屬合金、地質(zhì)材料、陶瓷或藥品)。

蔡司X射線顯微鏡

  LabDCT Pro支持從立方對稱的晶體結(jié)構(gòu)到低對稱系統(tǒng)(如單斜晶系材料)的樣品。

  使用專用4X DCT物鏡采集高分辨率晶體信息。對于更大樣品,使用平板探測器(FPX)進(jìn)行大面積高效率面分布成像。

  對更大的代表性體積和各種不同的樣品幾何形狀進(jìn)行全面的三維微觀結(jié)構(gòu)分析。

  利用四維成像實驗研究微觀結(jié)構(gòu)演化。

  將三維晶體信息和三維微觀結(jié)構(gòu)特征相結(jié)合。

  結(jié)合多種模式以了解結(jié)構(gòu)-屬性關(guān)系。

  在襯度方面更進(jìn)一步

  雙掃描襯度可視化系統(tǒng)(DSCoVer)為VersaXRM 730所獨有,通過結(jié)合在兩種不同X射線能量下拍攝的斷層圖像信息,擴(kuò)展了在單個能量吸收圖像中捕獲的細(xì)節(jié)。DSCoVer(雙掃描襯度可視化系統(tǒng))充分利用X射線與材料中的有效原子序數(shù)和密度的相互作用,以此為您提供較好的區(qū)分能力,例如,它能夠識別巖石內(nèi)的礦物差異性、區(qū)分硅和鋁等難以辨識材料的差異。

蔡司X射線顯微鏡VERSAXRM730

  實現(xiàn)全新的自由度

  旗艦產(chǎn)品VersaXRM 730提供額外的特色和成像功能。

  使用先進(jìn)的采集技術(shù),如高縱橫比斷層掃描成像(HART),提高大體積、扁平或不規(guī)則樣品的掃描速度和精度。

蔡司X射線顯微鏡VERSAXRM730

  利用寬場模式(WFM)對大型樣品進(jìn)行靈活成像,可用于橫向拼接投影圖像,以形成更廣的橫向觀察視野,為給定的觀察視野提供更高的體素密度,或為大型樣品提供寬橫向觀察視野和更大的三維體積。

  自動濾光片轉(zhuǎn)換器(AFC)無需手動干預(yù)即可實現(xiàn)無縫濾光片轉(zhuǎn)換,并針對每個配方對您的選擇進(jìn)行編程和記錄。

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